<ウェハー>
・グレード
:ダミー、モニター、テスト、プライム
・材質 :シリコン、サファイア、ガラス、SiC、LT、LN、Ge、GaN、InP、GaAs、InAs、InSb、SOIなど
・製造方法 :CZ、FZ
・導電型 :P型、N型
・ドーパント :Boron、Phosphorus、Antimony、Arsenic、Un-Doped
・直径 :1-12インチ(角型状対応可能)
・面方位 :(100)(110)(111)※その他面方位もあり
・抵抗値 :お客様のご要望仕様にて
・面仕上げ :ミラー、SG、エッチド、ラップド、アズカット
・サービス:成膜・再生・研磨研削・切断各種加工ウェハ検査等
・消耗品:ダイシングテープ・バックグラインディングテープなど
膜種 | 膜厚(Å) | 厚み公差 |
---|---|---|
SIO2(V/F) | 500-100000 | ±10% |
P-TEOS | 500-30000 | ±10% |
LP-POLY | 1000-5000 | ±10% |
AL-CU | 1000-10000 | ±10% |
W(CVD) | 3500-9000 | ±10% |
P-SIO2 | 500-10000 | ±10% |
LP-TEOS | 3000-10000 | ±10% |
LP-SIN | 700-2000 | ±10% |
HDP | 2000-10000 | ±10% |
P-SIN | 500-10000 | ±10% |
Ti | 100-3000 | ±10% |
TiN | 140-500 | ±10% |
SIO2(RTO) | 18-200 | ±10% |
W(SPUTTER) | 500-1000 | ±10% |
P-SION | 200-1000 | ±10% |
RESIST | 5000-27000 | ±10% |
Polyimide | 40000 | ±10% |